Durch 3D-Scannen von Produkten quantifizieren wir die gesamte dreidimensionale Form im Mikrometerbereich. Die Bewertung über ganze Flächen statt nur Punkte und Linien ermöglicht nicht nur Maßmessungen, sondern auch den Vergleich mit 3D-Daten. Hochpräzises Pattern Matching macht Abweichungen von der Zeichnung sichtbar und beschleunigt Trial-and-Error bei der Werkzeugentwicklung erheblich.
Anlagenname
Rauheitsmessgerät
Hersteller
MITUTOYO
Modell
SJ-410
Anlagenname
Konturmessgerät
Hersteller
MITUTOYO
Modell
CV-2100
Anlagenname
Koordinatenmessgerät
Hersteller
MITUTOYO
Modell
CRYSTA-Apex V
Kontakt
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